SEM（電子顕微鏡）導入

マコーでは処理表面を観察する手段として、マイクロスコープやレーザー顕微鏡、サーフトレーサーなどの機器を利用しておりましたが、倍率の違いやフィルターの使用により、対象物の真の表面を観察できているとはいえませんでした。

そこで、マコーでは従来の三次元鳥瞰図では見えなかった微妙な表面性状の違いを確認できるSEM（電子顕微鏡）を導入いたしました。これにより、その場で処理品質確認が可能になり、お客様のご希望の表面創生により迅速に対応できます。

弊社は、よりミクロ領域での表面観察がおこなえるサンプルテストを実施し、お客様の望むレベルの品質を提供していきたいと考えております。

■装置全景

■撮影風景

■ブラスト処理後PI表面（×2000）

■ブラスト処理後ガラス表面（×2000）

■ブラスト処理後Cu表面（×2000）

■ブラスト処理後回路表面_1（×70）

■ブラスト処理後回路表面_2（×70）

■ブラスト処理後回路表面3D表示

SEMの概要