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マコーでは今年3月末にSEM(電子顕微鏡)を導入いたしましたが、このたび素材表面の成分を確認できるSEMオプションのX線元素分析装置を新たに導入いたしました。
この装置は試料に電子を照射した際に得られる特性X線を利用して、試料に含まれる元素を特定する機能があり、表面の元素成分を正確に特定できます。これを利用し、母材表面の異物質や粒子の表面残渣をウェットブラスト処理後すぐに確認できます。
今後、弊社にて実施しているサンプルテストで、よりお客様のニーズに合わせた処理・計測をおこなえるようになります。


■装置全景

■撮影風景

■X線元素分析装置

■ブラスト処理後Cu表面(×500)

■マッピング後Cu表面(緑の点がCu以外の成分)

■スペクトラム分析表